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申请/专利权人：芯创(湖北)半导体科技有限公司
申请日：2023-05-15
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN221086411U
主分类号：B07C5/34
分类号：B07C5/34;B07C5/36
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.07#授权
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试分选装置，包括传送框，所述传送框的内部转动连接有传送轮，两个所述传送轮的表面设置有传送带，所述传送框的表面固定连接有固定块，本实用新型涉及芯片测试技术领域。该芯片测试分选装置,V型推板在转动拨动中将从检测框内从出料口出料的物料拨动到前后检测程度对应的收料框内，如果物料检测合格则控制器不会启动第二电机，这样物料就会通过传送带的传送穿过V型推板底部的过料槽并传送至传送带的左侧进行收集，期间通过设置V型推板使得物料实现了三向的检测分选，相比于传统只是单一不合格的分选更为精细，从而解决了传统的芯片测试分选装置往往分选单一的问题。
主权项：1.一种芯片测试分选装置，包括传送框1，其特征在于：所述传送框1的内部转动连接有传送轮2，两个所述传送轮2的表面设置有传送带3，所述传送框1的表面固定连接有固定块4，所述固定块4顶部固定连接有第一电机5，所述第一电机5的输出轴表面与一侧传送轮2在传送框1的转动处固定连接，所述传送框1的顶部设置有检测分选机构6；所述检测分选机构6包括检测框61，所述传送框1的表面固定连接有控制器66，所述控制器66与反馈器65电性连接，所述检测框61的一侧固定连接有衔接块67，所述衔接块67的底部开设有电机槽68，所述电机槽68的内部固定连接有第二电机69，所述第二电机69与控制器66电性连接，所述第二电机69的输出轴表面通过联轴器固定连接有转轴610，所述转轴610的底端固定连接有连接块611，所述连接块611的一侧固定连接有V型推板612，所述V型推板612的底部交汇处开设有过料槽613，所述传送框1地方前后两侧均固定连接有收料框614，两个所述收料框614的顶部均固定连接有引料板615。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 芯创(湖北)半导体科技有限公司 一种芯片测试分选装置
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