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申请/专利权人：北京广利核系统工程有限公司
申请日：2024-04-03
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118192511A
主分类号：G05B23/02
分类号：G05B23/02
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.14#公开
摘要：本发明提供了一种仪控系统的设定值测试方法、装置、存储介质及电子设备，该方法包括：获取标准设定值文件；对标准设定值文件进行格式转换，获得标准设定值表格文件；标准设定值表格文件中包含各个功能块对应的分表；每个功能块对应的分表中记录每个功能块的各个设定值信息，每个设定值信息包括第一设定值参数和第二设定值参数中的至少一种；将标准设定值表格文件中的第一设定值参数与数据库文件中的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果；将标准设定值表格文件中的第二设定值参数与预设的算法块中的第二待目标设定值参数进行比对测试，获得第二测试结果；输出第一测试结果以及所述第二测试结果。能够快速准确地完成设定值的测试。
主权项：1.一种仪控系统的设定值测试方法，其特征在于，包括：响应于设定值测试指令，获取标准设定值文件；所述标准设定值文件包括仪控系统的多个功能块的设定值信息；对所述标准设定值文件进行格式转换，获得标准设定值表格文件；所述标准设定值表格文件中包含各个所述功能块对应的分表；每个所述功能块对应的分表中记录每个所述功能块的各个设定值信息，每个所述设定值信息包括第一设定值参数和第二设定值参数中的至少一种；将所述标准设定值表格文件中的第一设定值参数与预设的数据库文件中待测试的第一目标设定值参数进行比对测试，获得第一测试结果；将标准设定值表格文件中的第二设定值参数与预设的算法块中待测试的第二待目标设定值参数进行比对测试，获得第二测试结果；输出所述第一测试结果以及所述第二测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京广利核系统工程有限公司 仪控系统的设定值测试方法、装置、存储介质及电子设备
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