申请/专利权人:天津海瑞电子科技有限公司
申请日:2024-05-15
公开(公告)日:2024-06-14
公开(公告)号:CN118191550A
主分类号:G01R31/26
分类号:G01R31/26
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.14#公开
摘要:本发明属于半导体器件测试领域,具体涉及功率模块循环测试方法。本发明公开的功率模块循环测试方法包括:对串联或并联的若干个功率模块施加电流,以获得对应于每个功率模块的第一温度序列;根据第一温度序列和热输入序列确定功率模块响应热输入的第二温度序列;根据第二温度序列确定功率模块温度的异常程度值;在异常程度值低于预设值时,基于第一温度序列确定第三温度序列,其中第三温度序列的循环时长高于第一温度序列;所述功率模块和工作界面接触,且工作界面被配置为具有和功率模块测量位对应的温控元件,且多个温控元件的热输出独立调节。本发明可以降低功率模块循环测试的时间成本。
主权项:1.功率模块循环测试方法,其特征在于,包括:对串联或并联的若干个功率模块施加电流,以获得对应于每个功率模块的第一温度序列;根据第一温度序列和热输入序列确定功率模块响应热输入的第二温度序列;根据第二温度序列确定功率模块温度的异常程度值;在异常程度值低于预设值时,基于第一温度序列确定第三温度序列,其中第三温度序列的循环时长高于第一温度序列;所述功率模块和工作界面接触,且工作界面被配置为具有和功率模块测量位对应的温控元件,且多个温控元件的热输出独立调节;所述热输入序列包括功率模块的电流和工作界面的温度。
全文数据:
权利要求:
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