申请/专利权人：兰州大学

申请日：2024-04-09

公开（公告）日：2024-06-14

公开（公告）号：CN118196303A

主分类号：G06T17/00

分类号：G06T17/00;G01R33/12

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.06.14#公开

摘要：一种磁导率谱拟合方法及系统，涉及到磁导率谱拟合技术领域。在于如何解决磁导率谱拟合过程中初值难确定、操作繁琐、结果不直观等问题，如何提高了拟合效率与成功率的技术问题；步骤一、将拟合参数的初始值导入基于matlabappdesigner开发的磁导率谱拟合系统中；步骤二、拟合参数初值选取；步骤三、拟合；将微调面板的拟合参数同步到拟合面板中作为拟合初值使用；步骤四、拟合参数微调；通过点击微调面板中各个参数的微调器来微调参数，参数改变后系统会通过updateplot函数来实时地更新拟合磁导率谱图像以供使用者比对；步骤五、数据导出。每个拟合参数对拟合图像的改变直观可见，可快速得到合理的拟合初值，与现有方案相比提高了效率、增加了拟合的成功率，提高了精度。可以同时对实验数据的虚部和实部进行拟合，大大降低了拟合难度。

主权项：1.一种磁导率谱拟合方法，其特征在于所述方法包括有如下步骤：步骤一、将拟合参数的初始值导入基于matlabappdesigner开发的磁导率谱拟合系统中；磁导率谱拟合系统界面包含有微调面板、图像面板与拟合面板；在图像面板显示磁导率谱数据图像和拟合磁导率谱图像，微调面板的各个参数在初始值导入将被初始化到默认值，拟合磁导率谱虚部图像依据默认值计算得到；步骤二、拟合参数初值选取；通过拖动微调面板的各个参数滑块来改变拟合参数值，使得拟合磁导率谱图像与实测磁导率谱图像大致吻合；大致吻合后，微调面板中各个拟合参数值便是拟合参数初值；步骤三、拟合；将微调面板的拟合参数同步到拟合面板中作为拟合初值使用，同时这组参数值将以矩阵形式被保存到全局变量app.fit_ori_paras中；对磁导率谱的类型进行了区分，针对不同的类型拟合的流程分为常规拟合与加权拟合；其中，常规拟合适用于数据点无明显错误的情况，加权拟合适用于数据点出现明显错误，需要去除坏点的情况；常规拟合中的虚部拟合对磁导率谱的虚部数据使用最小化残差平方和方法进行拟合；常规拟合中的实部拟合对磁导率谱的实部数据使用最小化残差平方和方法进行拟合；加权拟合中的加权虚部拟合对磁导率谱的虚部数据使用最小化残差平方和方法进行拟合；加权拟合中的加权实部拟合对磁导率谱的虚部数据使用最小化残差平方和方法进行拟合；步骤四、拟合参数微调；通过点击微调面板中各个参数的微调器来微调参数，参数改变后系统会通过updateplot函数来实时地更新拟合磁导率谱图像以供使用者比对；步骤五、数据导出；参数微调结束，模型拟合良好后导出拟合参数数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 兰州大学 一种磁导率谱拟合方法及系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD