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【发明授权】轴向氙振荡试验及堆外校刻方法、装置、存储介质和终端_中广核工程有限公司_202311089286.0 

申请/专利权人:中广核工程有限公司

申请日:2023-08-24

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN117153440B

主分类号:G21C17/108

分类号:G21C17/108

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.18#授权;2023.12.19#实质审查的生效;2023.12.01#公开

摘要:本发明涉及轴向氙振荡试验及堆外校刻方法、装置、存储介质和终端,包括以下步骤:设置机组初始状态;在完成机组初始状态设置后,保持控制棒不变或者在预设范围内提插控制棒进行机组功率提升;对机组功率进行监测,并根据机组的实时功率判断是否进入轴向氙振荡;若是,则获取不同轴向功率偏移下的通量图;根据不同轴向功率偏移下的通量图进行堆外核测系统的校刻。本发明通过升功率引起堆芯轴向氙振荡,可以使试验工期大大缩短,而且在升功率期间不存在大幅插棒过程,不会引入额外的触发运行限制工况的风险,同时,在氙振荡试验期间还可以实现堆外核测系统功率量程通道校刻。

主权项:1.一种轴向氙振荡试验及堆外校刻方法,其特征在于,包括以下步骤:设置机组初始状态;在完成机组初始状态设置后,保持控制棒不变或者在预设范围内提插控制棒进行机组功率提升;对机组功率进行监测,并根据机组的实时功率判断是否进入轴向氙振荡;若是,则获取不同轴向功率偏移下的通量图;所述不同轴向功率偏移下的通量图包括:第一状态下的通量图和第二状态下的通量图;所述第一状态下的通量图为:在氙振荡期间,不同轴向功率偏移下的振荡通量图;所述第二状态下的通量图为:在氙振荡结束且堆芯已进入氙平衡状态时的稳态通量图;所述获取不同轴向功率偏移下的通量图之后还包括:根据不同轴向功率偏移下的通量图进行堆外核测系统的校刻;所述根据不同轴向功率偏移下的通量图进行堆外核测系统的校刻包括:根据所述不同轴向功率偏移下的振荡通量图和所述稳态通量图,获取各个通量图的堆内轴向功率偏移以及与所述堆内轴向功率偏移对应的堆外核测系统的功率参数;根据所述堆内轴向功率偏移和所述功率参数,确定堆外轴向功率偏移;根据所述堆内轴向功率偏移和所述堆外轴向功率偏移,采用最小二乘法进行堆外核测系统的校刻。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中广核工程有限公司 轴向氙振荡试验及堆外校刻方法、装置、存储介质和终端

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