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申请/专利权人：昆山丘钛微电子科技股份有限公司
申请日：2021-07-28
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN113706625B
主分类号：G06F7/544
分类号：G06F7/544
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.18#授权;2021.12.14#实质审查的生效;2021.11.26#公开
摘要：本发明公开了一种镜头畸变校正方法及装置，所述方法包括：基于镜头拍摄的测试图，获得特征点矩阵。基于二次B样条曲线原理对特征点矩阵进行插值，获得特征点地图；其中，特征点矩阵的第一特征点与二次B样条曲线的型值点对应；基于特征点地图中的第二特征点，对镜头拍摄的待校正图像进行校正，获得校正图像。本发明在校正的过程中使用了通过二次B样条曲线原理得到的特征点地图，该特征点地图具有较高的映射精度，使用该特征点地图进行校正时不需要进行大量的计算，计算开销小。
主权项：1.一种镜头畸变校正方法，其特征在于，包括：基于镜头拍摄的测试图，获得特征点矩阵；基于二次B样条曲线原理对所述特征点矩阵进行插值，获得特征点地图；其中，所述特征点矩阵的第一特征点与所述二次B样条曲线的型值点对应；基于所述特征点地图中的第二特征点，对所述镜头拍摄的待校正图像进行校正，获得校正图像；所述基于二次B样条曲线原理对所述特征点矩阵进行插值，获得特征点地图，包括：基于预设区域的目标阵列点，获取行目标阵列点之间的第一平均距离；基于所述第一平均距离，确定相邻所述行目标阵列点之间的第一插值数量；基于预设区域的目标阵列点，获取列目标阵列点之间的第二平均距离；基于所述第二平均距离，确定相邻所述列目标阵列点之间的第二插值数量；基于所述第一插值数量和所述第二插值数量进行插值；其中，所述预设区域为测试图上的任一未发生畸变或畸变较小的区域。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 一种镜头畸变校正方法及装置
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