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【发明公布】具有对原始存储器单元的安全检测的非易失性存储器系统_恩智浦有限公司_202311721859.7 

申请/专利权人:恩智浦有限公司

申请日:2023-12-14

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118230801A

主分类号:G11C29/56

分类号:G11C29/56;G11C29/12;G11C16/22

优先权:["20221220 US 18/084,704"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:在存储器装置的非易失性存储器NVM系统中,连接到所述NVM系统的存储器单元阵列的存储器控制器被配置成执行以下步骤:选择要测试的存储器单元;在第一偏置条件下使连接到所述存储器单元的测试电路通电;读取所述存储器单元的电学特性的测量结果;以及基于所述测量结果确定所述存储器单元是已形成还是未形成。在实施例中,系统和方法包括通过验证测试的结果来保护所述测试电路免受攻击。所述存储器控制器另外被配置成在产生所述存储器单元是已形成还是未形成的已知测试结果的第二偏置条件下使所述测试电路通电;如果第二测试的结果不是预期结果,则所述存储器控制器确定所述测试电路发生故障或遭受攻击。

主权项:1.一种系统,其特征在于,包括:测试电路,所述测试电路被配置成耦合到存储器装置中的非易失性存储器单元的多个阵列中的第一阵列和第二阵列,每个存储器单元具有已形成状态或未形成状态,其中:在所述已形成状态中,所述存储器单元已经历用于将数据存储于所述存储器单元中的写入操作;并且在所述未形成状态中,所述存储器单元从未经历写入操作;所述测试电路包括:偏置电路系统,所述偏置电路系统被配置成使所述第一阵列的第一存储器单元经历一个或多个偏置条件;以及感测放大器,所述感测放大器电连接到所述偏置电路系统,并且被配置成产生对应于所述第一存储器单元在所述一个或多个偏置条件下测得的电学特性的值;以及处理器,所述处理器被配置成执行包括以下步骤的原始存储器检查:使得所述测试电路向所述第一存储器单元施加第一偏置条件;从所述测试电路获取对应于所述第一存储器单元在所述第一偏置条件下测得的所述电学特性的所述值作为第一值;基于所述第一值确定所述第一存储器单元的所述状态,其中所述第一值高于阈值指示所述状态已形成,所述第一值低于所述阈值指示所述状态未形成;当所述第一存储器单元的所述状态已形成时,执行与所述存储器装置未通过所述原始存储器检查相关联的一个或多个未通过模式动作;并且当所述第一存储器单元的所述状态未形成时,执行验证动作以确认所述测试电路工作正常。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 恩智浦有限公司 具有对原始存储器单元的安全检测的非易失性存储器系统

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