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申请/专利权人：禹创半导体(深圳)有限公司
申请日：2024-04-10
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118226323A
主分类号：G01R31/52
分类号：G01R31/52;G01R31/54;G01R27/08
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种面板走线检测方法、装置、设备及可读存储介质，应用于检测领域，该方法包括：获取利用驱动IC芯片的电压检测电路检测面板走线电压得到的上门限电压和下门限电压，基于面板走线电压与面板走线阻值的迟滞对应关系，根据上门限电压和下门限电压确定面板走线的阻值取值范围，获取面板走线阻值，若面板走线阻值处于阻值取值范围内，则确定面板走线合格。本发明通过获取面板走线的上下门限电压，基于上下门限电压确定面板走线的阻值取值范围，并获取面板走线阻值，根据该面板走线阻值是否处于阻值取值范围内确定面板走线是否合格，能够检测出面板走线阻值过大和阻值过小的面板，同时避免了因测试时间不足导致存在误判的问题。
主权项：1.一种面板走线检测方法，其特征在于，包括：获取利用驱动IC芯片的电压检测电路检测面板走线电压得到的上门限电压和下门限电压；基于所述面板走线电压与面板走线阻值的迟滞对应关系，根据所述上门限电压和所述下门限电压确定所述面板走线的阻值取值范围；获取面板走线阻值；若所述面板走线阻值处于所述阻值取值范围内，则确定所述面板走线合格。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 禹创半导体(深圳)有限公司 一种面板走线检测方法、装置、设备及可读存储介质
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