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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日：2024-03-15
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118228082A
主分类号：G06F18/24
分类号：G06F18/24;G06F18/214;G06F18/15;G06F18/213
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种射频开关矩阵早期故障识别方法，属于测试技术领域，本发明采用时频分析和变点检测融合的射频开关矩阵早期故障识别方法，首先采集开关矩阵的全生命周期数据，构建特征矩阵数据集，形成故障检测步骤需要的数据库，使用VMD模型对所采集到的原始数据清除扫频、突发信号和噪声干扰，提取有用信号；此外，提出一种基于多核MMD距离的变点检测算法，对预处理后的全生命周期中包含的多维特征时间序列进行最优分段数量和最优分割点计算，得到每个维度特征数据产生变点的时刻。该方法具有更好的泛化能力，且识别速度较快、准确率高，可有效提高对射频开关矩阵早期故障识别准确率。
主权项：1.一种射频开关矩阵早期故障识别方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：搭建射频开关矩阵老化试验平台，采集多维全生命周期数据；步骤2：对步骤1中采集的多维全生命周期数据进行分类整理，生成故障检测参数矩阵数据集；步骤3：通过变分模态分解方法对采集到的全生命周期数据进行预处理，滤除包括杂散噪声在内的干扰信号；采用协方差对经过变分模态分解方法得到的IMF分量进行合理重构，形成降噪后的数据集用于后续的故障检测；步骤4：从时序分布偏移的角度对数据集建模，根据多核最大均值差异原理构建MK-MMD变点检测函数；步骤5：通过遗传算法求解多维特征时间序列最佳的分割位置，对生命周期数据进行故障点分割和识别。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种射频开关矩阵早期故障识别方法
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