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【发明公布】双向扫描方法及双向扫描系统_深圳市中图仪器股份有限公司_202410492765.5 

申请/专利权人:深圳市中图仪器股份有限公司

申请日:2024-04-23

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118224998A

主分类号:G01B11/24

分类号:G01B11/24;G01B11/30;G01B11/00;B25B11/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本公开描述一种双向扫描方法及双向扫描系统,双向扫描方法包括令测杆和测针从工件一侧移动以穿过夹持机构,响应于测针位于预设位置,获取测杆在第一方向的坐标设定第一位置,并获取测针在第二方向的坐标设定测量起点;设定工件的测量区域;令测杆和测针从工件另一侧移动以穿过夹持机构,响应于测针位于预设位置,获取测杆在第一方向的坐标设定第二位置;基于第一位置、测量起点以及测量区域获取第一移动路径;基于第二位置、测量起点以及测量区域获取第二移动路径,令测针分别沿第一移动路径和第二移动路径移动并以测量区域扫描工件以获取轮廓信息。由此,提供一种能够降低测针在测量过程中发生碰撞的风险的双向扫描方法及双向扫描系统。

主权项:1.一种双向扫描方法,是用于双向扫描系统中测量工件的轮廓信息的方法,所述双向扫描系统包括夹持机构和扫描机构,所述扫描机构包括测杆以及设置于所述测杆一端的测针,所述扫描机构配置为在第一方向和第二方向移动,所述第一方向和所述第二方向正交,所述夹持机构沿所述第二方向设置,其特征在于,所述双向扫描方法包括:令工件夹持于所述夹持机构;令所述测杆和所述测针在手动控制下从工件的一侧沿所述第二方向移动以穿过所述夹持机构,响应于所述测针移动至预设位置,获取所述测杆在所述第一方向上的坐标以设定第一位置,并且获取所述测针在所述第二方向上的坐标以设定测量起点;根据所述测量起点和扫描长度设定工件的测量区域;令所述测杆和所述测针在手动控制下从工件的另一侧沿所述第二方向移动以穿过所述夹持机构,获取所述测杆在所述第一方向上的坐标以设定第二位置;基于所述第一位置、所述测量起点以及所述测量区域获取所述测针的第一移动路径;基于所述第二位置、所述测量起点以及所述测量区域获取所述测针的第二移动路径,并且令所述测针分别沿所述第一移动路径和所述第二移动路径移动并以所述测量区域扫描工件的两侧以获取所述轮廓信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市中图仪器股份有限公司 双向扫描方法及双向扫描系统

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