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申请/专利权人：成都瑞波科材料科技有限公司
申请日：2023-06-14
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN116818786B
主分类号：G01N21/94
分类号：G01N21/94;G01N21/01
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2023.10.24#实质审查的生效;2023.09.29#公开
摘要：本申请属于异物检测设备技术领域，具体涉及一种用于光学膜的异物检测装置、方法及光学膜涂布装置。该异物检测装置用于检测光学膜上的异物，其包括依次设置的光源、第一偏光片、第二偏光片和图像获取装置，第一偏光片与第二偏光片之间具有检测空间，且第一偏光片的吸光轴与第二偏光片的吸光轴垂直，在光学膜位于检测空间内的情况下，图像获取装置可获取白色图像或者黑色图像，异物可在白色图像中呈现出黑点以及在黑色图像中呈现出白点。采用本申请的异物检测装置可解决目前无法检测出光学膜上的粒径为10μm以下的异物的问题。
主权项：1.一种用于光学膜的异物检测装置，用于检测光学膜上的异物，所述光学膜被标记有第二标识结构；其特征在于，包括依次设置的光源（100）、第一偏光片（200）、第二偏光片（300）和图像获取装置（400），所述第一偏光片（200）与所述第二偏光片（300）之间具有检测空间（500），且所述第一偏光片（200）的吸光轴与所述第二偏光片（300）的吸光轴垂直，在所述光学膜位于所述检测空间（500）内的情况下，所述图像获取装置（400）可获取白色图像或者黑色图像，所述异物可在所述白色图像中呈现出黑点以及在所述黑色图像中呈现出白点；所述异物检测装置还包括打标装置和信息识别系统，所述打标装置用于在所述光学膜上进行标记第一标识结构，所述信息识别系统与所述图像获取装置（400）通信连接，所述信息识别系统用于将所述光学膜的标记有所述第二标识结构的已打标区域与待打标区域进行对比，以使所述打标装置标记所述待打标区域中未标记的异物，并标记所述第一标识结构；其中，所述第一标识结构所标记的异物的粒径小于所述第二标识结构所标记的异物的粒径；所述第一标识结构与所述第二标识结构不同。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都瑞波科材料科技有限公司 用于光学膜的异物检测装置、方法及光学膜涂布装置
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