申请/专利权人：成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司

申请日：2024-04-09

公开（公告）日：2024-06-21

公开（公告）号：CN118013342B

主分类号：G06F18/24

分类号：G06F18/24;G06F18/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.21#授权;2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开

摘要：本发明涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种约束变量的分类方法、电子设备及存储介质，其通过获取构成约束问题的N个约束表达式，遍历每个约束表达式，对每个约束表达式中的每个约束变量进行预处理，得到e的候选基础变量集Bc和候选结果变量集Rc；根据候选基础变量集合Bc和候选结果变量集合Rc获取中间变量集合M；根据Bc和M获取基础变量集合B；根据Rc和M获取结果变量集合R；将B、M和R按顺序输入约束求解器，使约束求解器按照分类顺序求解，能够缩减问题规模，避免不必要的计算消耗，提升求解效率。

主权项：1.一种约束变量的分类方法，其特征在于，所述方法应用于芯片验证领域，包括如下步骤：S1，获取构成约束问题的N个约束表达式，得到约束表达式集合e={e1,e2,…,ei,…,eN}，ei为第i个约束表达式，i的取值范围为1到N；其中，ei中包括Uei个约束变量，其中Uei的函数值大于等于1；所述约束变量为芯片设计中待随机化的硬件信号或状态，或者为芯片设计中受特定约束的硬件信号或状态；S2，遍历约束表达式集合e中的每个约束表达式，对每个约束表达式中的每个约束变量进行预处理，得到e的候选基础变量集Bc和候选结果变量集Rc；其中，所述候选基础变量集Bc用于保存在预处理过程中分类结果疑似为自变量的约束变量，所述候选结果变量集Rc用于保存在预处理过程中分类结果疑似为因变量的约束变量；S3，根据候选基础变量集合Bc和候选结果变量集合Rc获取中间变量集合M，其中，M满足：M=Bc∩Rc；S4，根据Bc和M获取基础变量集合B，其中，B满足：B=Bc-M；S5，根据Rc和M获取结果变量集合R，其中，R满足：R=Rc-M；S6，将B、M和R按顺序输入约束求解器，使约束求解器按照分类顺序求解；其中，S2还包括当遍历至ei时，对ei中的每个约束变量进行预处理的步骤：S21，获取ei中的顶层运算符opri；S22，当opri不是相等运算符时，将ei中的所有约束变量Vei放入Bc；当opri是相等运算符时，执行以下步骤：S221，获取相等运算符两侧的子表达式分别为e1i和e2i；S222，当e1i中约束变量的个数Ue1i等于1且e2i中约束变量的个数Ue2i大于1时，若e1i为线性表达式，则将e1i中的所有约束变量Ve1i放入Rc，将e2i中的所有约束变量Ve2i放入Bc；否则，将Vei放入Bc。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司 一种约束变量的分类方法、电子设备及存储介质

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