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申请/专利权人：天水天光半导体有限责任公司
申请日：2024-04-19
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118072809B
主分类号：G11C29/54
分类号：G11C29/54;G11C29/18;G11C29/36
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2024.06.11#实质审查的生效;2024.05.24#公开
摘要：本申请公开了一种面向寄存器芯片的自检测方法和装置，涉及芯片设计和测试领域，通过在片上存储单元预先保存第一数量的基准测试子序列，通过索引地址生成单元组在每个周期生成第三数量的索引地址，通过多路输出单元组根据第三数量的索引地址从第一数量的基准测试子序列中读取第三数量的指定基准测试子序列，通过测试序列生成单元对第三数量的指定基准测试子序列进行链接以生成链接测试序列，并对链接测试序列进行伪随机处理，以生成伪随机测试序列，输入给寄存器芯片主体执行故障自检测。本申请实施例显著降低测试数据对寄存器芯片的片上存储空间的占用率，可以实现较好的故障覆盖率，且降低芯片自检测的测试功耗、测试时间和测试成本。
主权项：1.一种面向寄存器芯片的自检测方法，其特征在于，包括：在片上存储单元预先保存第一数量的基准测试子序列，所述第一数量的基准测试子序列由第二数量的基准测试序列拆分得到；根据测试控制单元输出的第一使能信号，通过索引地址生成单元组在每个周期生成第三数量的索引地址，输出给与所述索引地址生成单元组相对应的多路输出单元组；通过所述多路输出单元组根据所述第三数量的索引地址从所述片上存储单元预先保存的第一数量的基准测试子序列中读取第三数量的指定基准测试子序列，输出给测试序列生成单元；通过所述测试序列生成单元根据所述测试控制单元输出的第二使能信号，对所述第三数量的指定基准测试子序列进行链接以生成链接测试序列，并对所述链接测试序列进行伪随机处理，生成伪随机测试序列，输入给寄存器芯片主体执行故障自检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 天水天光半导体有限责任公司 面向寄存器芯片的自检测方法和装置
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