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申请/专利权人：山东大学
申请日：2022-03-01
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN114814977B
主分类号：G01V11/00
分类号：G01V11/00;G01N29/04;E02D1/02
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权;2022.08.16#实质审查的生效;2022.07.29#公开
摘要：本发明公开了土岩双元基坑边坡岩体结构面与软弱局部精准勘察方法，涉及岩土工程技术领域，包括：基于高密度电法、探地雷达法、波速测试法和瞬变电磁法中的至少两种获取基坑边坡勘察结果，根据勘察结果布置钻探方案；按照钻探方案进行钻孔取样，得到取样结果；并利用钻孔成像技术勘察钻孔，得到钻孔成像结果；结合勘察结果、取样结果和钻孔成像结果，判断结构面发育情况。本发明根据结构面类型明确不同的勘察目标，选择不同的物探技术并加以组合，得到一种适用于结构面勘察的综合物探技术，以查明岩体结构面发育情况并获取结构面统计参数。
主权项：1.土岩双元基坑边坡岩体结构面与软弱局部精准勘察方法，其特征在于，包括：基于高密度电法、探地雷达法和瞬变电磁法中的至少两种获取基坑边坡勘察结果，根据勘察结果布置钻探方案；按照钻探方案进行钻孔取样，得到取样结果；并利用钻孔成像技术勘察钻孔，得到钻孔成像结果；结合勘察结果、取样结果和钻孔成像结果，判断结构面发育情况；根据结构面发育程度划分为Ⅰ级结构面、Ⅱ级结构面、Ⅲ级结构面、Ⅳ级结构面和Ⅴ级结构面；对于Ⅰ级结构面和Ⅱ级结构面需要获取其几何参数和力学参数；对于Ⅲ级结构面需要确定其充填情况、其和Ⅰ级结构面和Ⅱ级结构面的组合情况；对于无充填的Ⅲ级结构面、Ⅳ级结构面和Ⅴ级结构面需确定其统计分布规律；通过高密度电法、探地雷达法和瞬变电磁法中的至少两种，明确Ⅰ级结构面、Ⅱ级结构面和有填充的Ⅲ级结构面的范围、产状和位置；根据钻孔成像结果确定无充填Ⅲ级结构面和Ⅳ结构面、Ⅴ级结构面的几何参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东大学 土岩双元基坑边坡岩体结构面与软弱局部精准勘察方法
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