申请/专利权人:深圳市一冷科技有限公司
申请日:2023-11-16
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN221199523U
主分类号:G01N25/00
分类号:G01N25/00;G01N3/60
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.21#授权
摘要:本实用新型提供一种电流冷热循环冲击测试装置,涉及半导体制冷片加工技术领域,包括支撑基板和承重供电基台,承重供电基台表面圆周分布设有加热片,加热片之间设有测温台,承重供电基台顶部设有吊装供电基台,吊装供电基台底面圆周设有制冷片和测温台,承重供电基台中心位置设有驱动电机,驱动电机的输出轴设有连接支臂,连接支臂端部栓接设有夹持组件,半导体制冷片可在夹持组件的夹持下,在驱动电机旋转的作用下沿操作供电基台表面循环旋转,实现表面的反复循环冷热处理和测温,无需循环进行装置的启闭,通过旋转实现往复循环冷热测试,便于对测试次数进行记录,自动化高,便于对半导体制冷片进行往复循环的冷热冲击测试使用,测试效率高。
主权项:1.一种电流冷热循环冲击测试装置,包括支撑基板1和承重供电基台3,其特征在于:所述支撑基板1表面边缘设有支撑座2,且支撑座2顶端与承重供电基台3边缘栓接,所述承重供电基台3表面圆周分布设有加热片6,相邻所述加热片6之间设有测温台8,所述承重供电基台3顶部设有吊装供电基台4,所述吊装供电基台4底面圆周分布设有制冷片7和测温台8,所述承重供电基台3中心位置设有驱动电机10,所述驱动电机10的输出轴设有连接支臂11,所述连接支臂11端部栓接设有夹持组件12。
全文数据:
权利要求:
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