申请/专利权人：成都蓉博通信技术有限公司

申请日：2024-03-20

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN118244032A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;G01M11/00

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.06.25#公开

摘要：本发明公开了一种TO激光器的老化测试方法，包括：1：上位机通过控制总板与通道电路板建立通信连接；2：由上位机将预设老化参数依次发送至各通道电路板中进行初始化操作，使通道电路板与TO老化板之间的输出电源断开；3：将TO激光器插装至TO老化板上并加电；4：由通道电路板根据接收到的老化参数对TO激光器施加LD电流、TEC电压和EA偏置电压进行老化测试，同时采集数据并实时动态调节输出的LD电流、TEC电压和EA偏置电压，使通道电路板按预设老化参数老化TO激光器；5：老化测试完成。本发明采用了独立的控制总板、通道电路板和TO老化板实现TO激光器的老化测试，不仅能够实现各通道电路板的集中供电和信号的统一控制，还能够在避免高温影响的前提下提高老化测试的稳定性和可靠性，解决了现有技术稳定性和可靠性较差的技术问题。

主权项：1.一种TO激光器的老化测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：建立通信连接将上位机、控制总板、通道电路板和用于插接待老化测试TO激光器的TO老化板依次连接，连接后由上位机向控制总板发送选通指令，控制总板根据选通指令将IIC通信依次连接到各通道电路板，使上位机与各通道电路板依次建立通信连接；步骤2：初始化操作根据建立通信连接的先后顺序，上位机将预设老化参数依次发送至各通道电路板中进行初始化操作，使通道电路板与TO老化板之间的输出电源断开；步骤3：TO激光器加电将待老化测试的TO激光器插装至TO老化板上，插装完成后，通过上位机控制控制通道电路板与TO老化板之间的输出电源连通，使TO激光器加电；步骤4：老化测试通道电路板根据接收到的老化参数，对TO激光器施加LD电流、TEC电压和EA偏置电压进行老化测试，同时实时采集老化测试过程中TO激光器的LD电流、TEC电压、EA偏置电压、TO温度和MPD电流，并根据采集的数据实时动态调节输出的LD电流、TEC电压和EA偏置电压，直至输出数据与老化参数相同，使通道电路板按预设老化参数老化TO激光器；步骤5：结束老化测试完成后，上位机向通道电路板发出停止老化指令，通道电路板接收到停止老化指令后控制输出电源断开，从TO老化板上取下TO激光器，老化测试结束。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都蓉博通信技术有限公司 一种TO激光器的老化测试方法

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