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嵌入量子点的全彩Micro-LED显示芯片及其制备方法 

申请/专利权人:江苏穿越光电科技有限公司

申请日:2022-01-14

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN114497325B

主分类号:H01L33/50

分类号:H01L33/50;H01L33/20;H01L33/44;H01L33/00;B82Y40/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2023.10.17#专利申请权的转移;2022.05.31#实质审查的生效;2022.05.13#公开

摘要:本发明公开了一种嵌入量子点的全彩Micro‑LED显示芯片及其制备方法。本发明在n型半导体层制备特殊的纳米孔图形阵列,分别在红光Micro‑LED芯片和绿光Micro‑LED芯片的纳米孔图形阵列中注入红色和绿色量子点,提高量子点的色转换效率和芯片的光提取效率。本发明在Micro‑LED芯片表面制备了一种复合介质层。采用ALD技术沉积一层薄的第一介质层,采用PECVD技术沉积一层厚的第二介质层,并且第一介质层和第二介质层的折射率不同,在降低芯片制备成本的同时,有效降低了芯片的非辐射复合几率和漏电流,提高了芯片的光提取效率。

主权项:1.一种嵌入量子点的全彩Micro-LED显示芯片,其特征在于,包括驱动面板、键合在驱动面板上且阵列排布的若干RGB像素单元;每一RGB像素单元包括三个薄膜倒装Micro-LED芯片,分别发射红光、绿光、蓝光;所述薄膜倒装Micro-LED芯片的n型半导体层表面制备有纳米孔图形阵列;在红光和绿光薄膜倒装Micro-LED芯片的纳米孔图形阵列中分别注入红色量子点和绿色量子点;在所述薄膜倒装Micro-LED芯片表面制备有复合介质层;所述复合介质层包括第一介质层和第二介质层;所述第一介质层的制备采用ALD技术,其厚度为1-3nm;所述第二介质层的制备采用PECVD技术,其厚度为5-10nm;第一介质层和第二介质层的折射率不同。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江苏穿越光电科技有限公司 嵌入量子点的全彩Micro-LED显示芯片及其制备方法

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