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申请/专利权人：恩智浦有限公司
申请日：2019-11-29
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN111239593B
主分类号：G01R31/3185
分类号：G01R31/3185
优先权：["20181129 US 16/203,855"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.25#授权;2021.12.28#实质审查的生效;2020.06.05#公开
摘要：提供一种系统。所述测试系统包括印刷电路板PCB和安装在所述PCB上的多个集成电路IC。所述多个集成电路的第一IC包括具有第一测试存取端口TAP控制器的第一测试电路。所述多个集成电路的第二IC包括：第二测试电路；其具有第二TAP控制器；以及嵌入式测试仪，其具有借助于链接电路耦合到所述第一TAP控制器的测试数据输入端的测试数据输出端。所述嵌入式测试仪被配置成将测试控制信号提供到所述第一TAP控制器和所述第二TAP控制器。
主权项：1.一种测试系统，其特征在于，包括：印刷电路板PCB；多个集成电路IC，其安装在所述PCB上，所述多个集成电路的第一IC包括：第一测试电路，其具有第一测试存取端口TAP控制器；以及所述多个集成电路的第二IC包括：第二测试电路，其具有第二TAP控制器；以及嵌入式测试仪，其具有借助于链接电路耦合到所述第一TAP控制器的测试数据输入端的测试数据输出端，所述嵌入式测试仪被配置成将测试控制信号提供到所述第一TAP控制器和所述第二TAP控制器。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 恩智浦有限公司 具有嵌入式测试仪的测试系统
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