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申请/专利权人：同济大学;北京遥测技术研究所
申请日：2023-11-21
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN117629587B
主分类号：G01M11/02
分类号：G01M11/02
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.25#授权;2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开
摘要：本发明涉及一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法，所述装置包括待测倍频激光器、两个基准激光器、五个双波长反射镜、四个双波长分光镜、中性密度衰减片、部分反射镜组、电动滤光片转轮、两个快门、消色差透镜、光束质量分析仪和两个可变光阑。与现有技术相比，本发明可以同时测量双波长激光的光束质量因子，具有测量效率高、操作简便以及测量准确度高等优点。
主权项：1.一种测量双波长激光光束质量因子的装置，其特征在于，包括第一基准激光器201、第二基准激光器202和待测倍频激光器203，所述待测倍频激光器203输出的光束经过第四双波长反射镜204和第五双波长反射镜205反射，通过第二双波长分光镜3后进入中性密度衰减片4；所述第二基准激光器202输出的光束经过第一双波长反射镜1反射后，与所述第一基准激光器201输出的光束通过第一双波长分光镜2，到达所述第二双波长分光镜3；所述中性密度衰减片4后依次设置部分反射镜组5、电动滤光片转轮6和第三双波长分光镜7，所述第三双波长分光镜7后分设校准光路II和测试光路I，所述校准光路II包括第一快门8、第二双波长反射镜9和第三双波长反射镜10，所述测试光路I包括第二快门14和消色差透镜12，所述校准光路II和测试光路I输出的光束通过第四双波长分光镜11到达光束质量分析仪13，所述第二双波长分光镜3和所述中性密度衰减片4之间设置第一可变光阑101，所述第四双波长分光镜11和所述光束质量分析仪13之间设置第二可变光阑102。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同济大学;北京遥测技术研究所 一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法
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