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申请/专利权人：东莞忆联信息系统有限公司
申请日：2024-03-13
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118262781A
主分类号：G11C29/56
分类号：G11C29/56
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明涉及固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质，该方法，包括：对固态硬盘组温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；对固态硬盘组顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再烘烤t1、t2、t3、或t4时间，然后进行只读测试，以记录t1、t2、t3、或t4对应的时延数据；对时延数据进行退化分析，并建立退化方程；对固态硬盘组中的每个固态硬盘样品进行退化计算，以得到退化寿命值；对退化寿命值分析处理，以得到分析结果。本发明通过设计四组高温加速试验，验证时延随时间线性增加的特性，然后建立退化方程，从而求解出每个样品的退化寿命并分析，准确产品数据保持能力的时延衰退的可靠性。
主权项：1.固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，包括以下步骤：对固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数据；对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t2时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t2对应的时延数据；对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t3时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t3对应的时延数据；对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t4时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t4对应的时延数据；对t1对应的时延数据、t2对应的时延数据、t3对应的时延数据及t4对应的时延数据进行退化分析，并建立退化方程；根据退化方程，对固态硬盘组中的每个固态硬盘样品进行退化计算，以得到每个固态硬盘样品对应的退化寿命值；对所有的退化寿命值进行分析处理，以得到分析结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 东莞忆联信息系统有限公司 固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质
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