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异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质 

申请/专利权人:武汉TCL集团工业研究院有限公司

申请日:2022-12-27

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118260172A

主分类号:G06F11/34

分类号:G06F11/34

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明公开了一种异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括获取监测数据信息,基于图模型,对监测数据信息进行预测处理,得到预测数据信息,基于预测数据信息,对监测数据信息进行分析处理,得到数据分析结果,数据分析结果表征监测数据信息的异常情况。采用本发明实施例,能够根据监测数据信息的异常情况,精准定位到发生异常的监测设备,缩短了工艺工程师排查异常的时间成本,极大的提高生产效率。

主权项:1.一种异常数据分析方法,其特征在于,包括:获取监测数据信息;基于图模型,对所述监测数据信息进行预测处理,得到预测数据信息;基于所述预测数据信息,对所述监测数据信息进行分析处理,得到数据分析结果;所述数据分析结果表征所述监测数据信息的异常情况。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 武汉TCL集团工业研究院有限公司 异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质

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