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放射源定位方法及装置 

申请/专利权人:中国工程物理研究院核物理与化学研究所;北京安核技术有限公司

申请日:2024-03-31

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118259331A

主分类号:G01T1/16

分类号:G01T1/16

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本申请适用于辐射监测技术领域,提供了一种放射源定位方法及装置,方法包括:获取探测装置的第一位置信息;控制探测装置水平旋转和俯仰偏转,采集周围环境的第一辐射强度信息;根据第一辐射强度信息生成第一辐射强度图,根据第一辐射强度图确定放射源相对于探测装置的第一方位角;获取探测装置处于第二位置时的第二位置信息;采集周围环境的第二辐射强度信息;根据第二辐射强度信息生成第二辐射强度图,根据第二辐射强度图确定放射源相对于探测装置的第二方位角;根据第一方位角、第二方位角、第一位置与第二位置之间的距离,确定放射源的位置信息。本申请可以精确地得到放射源的实际位置,有助于提高放射源定位的准确性。

主权项:1.一种放射源定位方法,其特征在于,包括:获取探测装置处于第一位置时的第一位置信息;控制所述探测装置按照预设速度均速进行水平旋转和俯仰偏转,以及在所述水平旋转和所述俯仰偏转的过程中,采集周围环境的第一辐射强度信息;根据所述第一辐射强度信息生成第一辐射强度图,根据所述第一辐射强度图确定放射源相对于所述探测装置的第一方位角;将所述探测装置移动至第二位置,以及获取所述探测装置处于所述第二位置时的第二位置信息;控制所述探测装置按照所述预设速度均速水平旋转和俯仰偏转,以及在所述水平旋转和所述俯仰偏转的过程中,采集周围环境的第二辐射强度信息;根据所述第二辐射强度信息生成第二辐射强度图,根据所述第二辐射强度图确定放射源相对于所述探测装置的第二方位角;根据所述第一方位角、所述第二方位角、所述第一位置与所述第二位置之间的距离,确定所述放射源的位置信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所;北京安核技术有限公司 放射源定位方法及装置

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