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一种应用于半导体领域的实例检索方法和装置 

申请/专利权人:苏州芯联成软件有限公司

申请日:2024-04-15

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118262129A

主分类号:G06V10/75

分类号:G06V10/75;G06V10/74;G06V10/776

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明公开了一种应用于半导体领域的实例检索方法和装置。其中,该方法包括:将模板和实例进行粗召回,以得到每个实例与每个模板的相似度得分;将每个实例对应的投放到得分最高的模板中,采用异常检测算法对每个模板上的实例进行打分排序;根据打分的结果判断模板对应的实例是否存在异常,若存在,则重新检索该模板对应的实例,否则,检索结束。本发明提供实例检索方法,通过分别执行粗召回、精排以及核验迭代步骤,不仅提高了实例检索的正确率和时效,同时大幅降低实例检索的时间成本、经济成本和人工成本。

主权项:1.一种应用于半导体领域的实例检索方法,其特征在于,包括:S1、将模板和实例进行粗召回,以得到每个实例与每个模板的相似度得分;S2、将每个实例对应的投放到得分最高的模板中,采用异常检测算法对每个模板上的实例进行打分排序;S3、根据打分的结果判断模板对应的实例是否存在异常,若存在,则重新检索该模板对应的实例,否则,检索结束。

全文数据:

权利要求:

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