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基于轮廓斜度的表面粗糙度表征方法在绝缘领域的应用 

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申请/专利权人:国网安徽省电力有限公司马鞍山供电公司

摘要:本发明公开了一种基于轮廓斜度的表面粗糙度表征方法在绝缘领域的应用,属于表面粗糙度表征技术领域,采用固体表面轮廓斜率绝对值的算术平均值表征其表面粗糙度,称为轮廓斜度算术平均偏差,用参数Rk表示。计算Rk仅需获得固体材料的表面轮廓,因此现有的任意表面粗糙度测试仪都能用于测量和计算Rk,方便实用,不会增加成本。此外,轮廓斜度算术平均偏差Rk相比现有的表面粗糙度参数,可以较好的反映固体材料表面微观结构,适合在研究表面接触角、沿面闪络、二次电子发射等与材料表面微观结构紧密相关的表界面现象中选用,有利于推动表界面物理、沿面绝缘等相关领域的理论发展与实际应用。

主权项:1.一种基于轮廓斜度的表面粗糙度表征方法在绝缘领域的应用,其特征在于:包括如下步骤:S1:在材料表面x方向上对表面轮廓进行取样,设x方向上的取样长度为l,取样长度内每间隔dx距离进行一次取样,dx即为取样精度,在整个取样长度内完成取样后获得固体材料的表面轮廓;S2:计算表面轮廓的中线,任意x位置处对应的表面轮廓至中线的距离即为该点的轮廓高度yx;S3:计算轮廓斜度算术平均偏差Rk,其中,任意x位置处对应的轮廓斜率kx定义为在取样方向上该点与下一点之间的斜率并通过下式计算: 在上式基础上,轮廓斜度算术平均偏差Rk可以通过下式计算: 当材料表面轮廓的轮廓算数平均偏差Ra相同时,Rk较小说明轮廓高度分布较为集中,材料表面轮廓的微观结构比较平整;Rk较大则说明轮廓高度分布较为分散,材料表面轮廓的微观结构凹凸不平。

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