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申请/专利权人：珠海一微半导体股份有限公司
摘要：本申请公开用于防接触的电容式检测方法及电容式检测系统，电容式检测方法包括：步骤1、在目标检测电容的电容值不受带电体影响的情况下计时出参考电容的充电时间并设置为基准检测时间阈值；步骤2、根据基准检测时间阈值与预先在不同测量距离处计时出的参考电容的充电时间的关系设置触发检测时间阈值；步骤3、控制所述目标检测电容为参考电容进行多轮循环充电操作并逐轮计时参考电容的充电时间；然后判断步骤3中最新计时过的预设数量个充电时间是否均处于预设时间范围内，是则更新基准检测时间阈值再执行步骤2，否则判断步骤3中计时出的充电时间是否小于触发检测时间阈值，是则存在带电体与所述目标检测电容相接触的风险，否则执行步骤3。
主权项：1.用于防接触的电容式检测方法，其特征在于，电容式检测方法包括：步骤1、在目标检测电容的电容值不受带电体影响的情况下，计时出参考电容的充电时间，并将参考电容的充电时间设置为基准检测时间阈值；然后执行步骤2；步骤2、根据基准检测时间阈值与预先在不同测量距离处计时出的参考电容的充电时间之间的关系，设置触发检测时间阈值，然后执行步骤3；其中，带电体与目标检测电容之间的距离是测量距离；每当改变所述测量距离，则引起目标检测电容的电容值变化，使参考电容的充电时间变化；所述触发检测时间阈值小于所述基准检测时间阈值；步骤3、控制所述目标检测电容为所述参考电容进行多轮循环充电操作，并逐轮计时出参考电容的充电时间，然后执行步骤4；步骤4、判断步骤3中最新计时过的预设数量个充电时间是否均处于预设时间范围内，是则将自适应目标充电时间更新为基准检测时间阈值再执行步骤2，否则执行步骤5；其中，自适应目标充电时间处于预设时间范围内；步骤3中最新计时过的预设数量轮的充电时间的覆盖范围发生变化时，预设时间范围发生变化使自适应目标充电时间发生变化；步骤5、判断步骤3中计时出的充电时间是否小于触发检测时间阈值，是则确定存在带电体与所述目标检测电容相接触的风险，否则执行步骤3。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 珠海一微半导体股份有限公司 用于防接触的电容式检测方法及电容式检测系统
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