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申请/专利权人：株式会社日本显示器
摘要：本申请提供阵列基板的检查方法、显示装置以及检查治具，其能够良好地检查未安装发光元件的阵列基板的特性。阵列基板的检查方法具有如下步骤：准备未安装多个发光元件的阵列基板；使用包括第一连接端子、第二连接端子和设于第一连接端子与第二连接端子之间的检查用电容的检查治具，将第一连接端子与安装电极连接，并将第二连接端子与像素阴极电极连接；以及基于来自控制阵列基板的检查的检查用控制电路的控制信号，向晶体管供给检查信号，并对根据检查信号从晶体管输出的输出信号进行检测。
主权项：1.一种阵列基板的检查方法，所述阵列基板供多个发光元件进行安装，所述阵列基板具有：多个晶体管，与多个像素对应设置；多个安装电极，与所述晶体管电连接，供所述发光元件进行安装；以及像素阴极电极，与多个所述安装电极相邻设置，并与基准电位电连接，所述阵列基板的检查方法具有以下步骤：准备未安装多个所述发光元件的所述阵列基板；使用包括第一连接端子、第二连接端子和检查用电容的检查治具，将所述第一连接端子与所述安装电极连接，并将所述第二连接端子与所述像素阴极电极连接，所述检查用电容设于所述第一连接端子与所述第二连接端子之间；以及基于来自检查用控制电路的控制信号，经由影像信号线和所述多个晶体管中的像素选择晶体管向所述多个晶体管中的驱动晶体管的栅极供给检查信号，并对根据所述检查信号经由所述多个晶体管中的复位晶体管和复位电源线输出到检测电路的输出信号进行检测，所述检查用控制电路控制所述阵列基板的检查。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社日本显示器 阵列基板的检查方法、显示装置以及检查治具
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