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申请/专利权人：长春半导体有限公司
摘要：本实用新型公开了一种微波器件电老化试验台，包括试验台主体，在使用时，首先将试验台主体放置在合适的地方，然后再按压中心按钮，中心按钮会向后挤压按压块，按压块会向后挤压连接块，连接块会向后挤压挤压块，挤压块会向后挤压复位弹簧，此时下卡扣会在转动轴的作用下向前旋转，并且与上卡扣分离，然后即可打开试验台主体盖板，再松开中心按钮，下卡扣会在复位弹簧的作用下恢复原状，然后再将微波器件放置在固定侧板的两侧，此时再打开电动推杆，电动推杆会带动抵板在抵板滑槽内向内侧移动，直至抵板完全抵住微波器件，此时就完成了微波器件的固定，然后再向内侧旋转第一螺纹杆，直至防滑垫完全抵住微波器件，此时可以使微波器件更加稳固。
主权项：1.一种微波器件电老化试验台，包括试验台主体1，其特征在于，所述试验台主体1的内部下侧设有台面15，台面15的上侧两端设有电动推杆20；所述电动推杆20的右侧设有抵板28，抵板28的右侧设有固定侧板29，抵板28的内部设有若干第一螺纹杆21，第一螺纹杆21的右侧设有防滑垫22。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春半导体有限公司 一种微波器件电老化试验台
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