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一种基于ADC电路的激光校准方法和激光测距仪 

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申请/专利权人:深达威科技(广东)股份有限公司

摘要:本发明涉及一种基于ADC电路的激光校准方法和激光测距仪,包括:控制激光发射模块向测量板发射第一激光信号;由激光接收模块的ADC电路将经测量板反射的第二激光信号转换成数字信号;基于数字信号,确定第一基准点与测量板之间的第一测量距离对应的补偿距离,以实现对激光测距仪的校准,同时其是在小于5m的距离内实现的,故其能够实现在较小的室内实现短距离的校准,从而有效避免了校准场地的局限性。

主权项:1.一种基于ADC电路的激光校准方法,其特征在于,所述激光校准方法应用于激光测距仪中的MCU控制器,所述激光测距仪包括激光发射模块、激光接收模块、所述ADC电路和所述MCU控制器,并且所述激光测距仪处于预先搭建的包括测量板的激光测距仪校准平台的第一校准点上,以及所述第一校准点和所述测量板之间的第一实际距离小于5米;所述激光校准方法包括:控制所述激光发射模块向所述测量板发射第一激光信号;由所述激光接收模块的ADC电路将经所述测量板反射的第二激光信号转换成数字信号;基于所述数字信号,确定所述第一基准点与所述测量板之间的第一测量距离对应的补偿距离,以实现对所述激光测距仪的校准。

全文数据:

权利要求:

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