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扁平引脚芯片的测试装置 

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申请/专利权人:史密斯互连美洲公司

摘要:本发明涉及半导体领域,公开了一种扁平引脚芯片的测试装置,包括绝缘的测试插座、导电的接触件以及枢轴结构,测试插座内具有空腔、分别与空腔连通的第一开口和第二开口,接触件设置为能够保持在空腔内并具有从第一开口伸出的第一部分和从第二开口伸出的第二部分,第一部分形成为尖端,枢轴结构与接触件弹性地接触,从而接触件能够在扁平引脚芯片施加在第一部分上的作用力的作用下围绕枢轴结构转动,并且同时枢轴结构能够对接触件施加作用力,以使第二部分与测试板紧密接触并能够促动接触件复位转动。通过与扁平引脚芯片形成线‑面接触,能够保持稳定的接触并降低接触电阻,通过接触件的转动方便地实现接触件与扁平引脚芯片和测试板精确接触。

主权项:1.一种扁平引脚芯片的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括绝缘的测试插座100、导电的接触件200以及枢轴结构300,所述测试插座100内具有空腔,所述测试插座100的上表面和下表面上设置有分别与所述空腔连通的第一开口110和第二开口120,所述接触件200设置为能够保持在所述空腔内并具有从所述第一开口110伸出以与扁平引脚芯片400形成接触的第一部分210和从所述第二开口120伸出以与测试板500形成接触的第二部分220,所述第一部分210形成为具有与所述扁平引脚芯片400形成线-面接触的宽度的尖端,所述枢轴结构300设置在所述空腔内并与所述接触件200弹性地接触,从而所述接触件200能够在所述扁平引脚芯片400施加在所述尖端上的作用力的作用下围绕所述枢轴结构300转动,使得所述尖端刮擦所述扁平引脚芯片400,并且同时所述枢轴结构300能够对所述接触件200施加作用力,以使所述第二部分220与所述测试板500紧密接触并能够在撤去所述第一部分210上的作用力时促动所述接触件200复位转动。

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权利要求:

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