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申请/专利权人：珠海市明辉达科技有限公司

摘要：本发明公开了一种继电器寿命测试方法及装置，涉及继电器技术领域，包括获取继电器参数信息，根据继电器参数信息，基于继电器寿命测试需求，获取继电器测试电路信息，根据继电器测试电路信息，获取继电器测试数据。本发明通过继电器参数信息，获取继电器测试电路信息，确保继电器测试数据准确性和可靠性，便于之后对继电器寿命进行预测，根据继电器历史数据，获取继电器寿命预测模型，确保继电器寿命预测的准确性，避免异常数据对模型造成影响，通过继电器寿命预测数据获取关于继电器可靠性的有价值信息，以指导继电器设计和生产，根据继电器测试数据，对继电器生产流程进行调整，为产品设计和改进提供参考。

主权项：1.一种继电器寿命测试方法，其特征在于，包括：获取继电器参数信息，所述继电器参数信息包括继电器型号信息和继电器规格数据；根据继电器参数信息，基于继电器寿命测试需求，获取继电器测试电路信息；根据继电器测试电路信息，对继电器进行测试，获取继电器测试数据；根据继电器测试数据，获取继电器测试温度数据；根据继电器参数信息，获取继电器温度变化阈值；根据继电器测试温度数据和继电器温度变化阈值，判断继电器过程中继电器测试温度数据是否超出继电器温度变化阈值，若是，则继电器温度变化过大超出继电器设计参数，该继电器测试数据不可用，若否，则继电器测试数据温度影响程度符合分析需求，该继电器测试数据可用；根据继电器测试数据和继电器参数信息，获取继电器测试异常数据，所述继电器测试异常数据包括继电器测试异常电流数据和继电器测试触点异常数据；基于继电器目标工作需求，获取继电器测试异常数据阈值；根据继电器测试异常数据和继电器测试异常数据阈值，判断继电器测试异常数据是否超出继电器测试异常数据阈值，若是，则该继电器不合格，继电器测试数据不可用，若否，则该继电器测试数据可用；获取继电器历史数据，所述继电器历史数据包括继电器使用寿命数据、继电器历史工作参数数据和继电器历史工作状态信息；根据继电器历史数据，基于数据分析，获取继电器历史数据箱线图；根据继电器历史数据箱线图，基于可视化检测，获取继电器历史离群数据；根据继电器历史离群数据，对继电器历史数据进行异常数据剔除，获取继电器历史修正数据；根据继电器历史修正数据，基于哈希表构建，获取继电器历史修正数据哈希表信息；根据继电器历史修正数据哈希表信息，基于哈希值检测，获取继电器历史修正数据中的重复数据；对继电器历史修正数据中的重复数据进行去除，获取继电器历史去重数据；根据继电器历史去重数据，基于模型训练需求，获取继电器历史数据集，所述继电器历史数据集包括继电器历史数据训练集和继电器历史数据测试集；根据继电器历史数据集，对现有预测模型进行训练，获取继电器寿命预测模型；根据继电器历史数据，获取继电器历史工作温度数据和继电器历史工作数据，所述继电器历史工作数据包括继电器历史工作电流数据和继电器历史工作负载信息；根据继电器历史工作温度数据和继电器历史工作数据，获取继电器历史工作数据变化温度相关信息；根据继电器历史工作数据变化温度相关信息和继电器测试数据，对继电器测试数据进行分类，获取继电器测试数据分类信息；根据继电器测试数据、继电器测试数据分类信息和继电器寿命预测模型，对继电器寿命进行预测，获取继电器寿命预测数据；根据继电器测试电路信息，对测试电流增加额外负载，获取继电器额外负载测试数据；根据继电器测试电路信息，对继电器进行冲击测试，获取继电器冲击测试数据；根据继电器测试电路信息，对继电器进行维护，获取继电器测试维护数据；根据继电器额外负载测试数据、继电器冲击测试数据和继电器测试维护数据，获取继电器差异测试数据；根据继电器差异测试数据，对继电器应用状况造成的继电器寿命影响进行评估，获取继电器应用寿命影响评估数据；根据继电器应用寿命影响评估数据和继电器寿命预测数据，获取继电器寿命测试综合数据；根据继电器寿命测试综合数据，对继电器寿命进行评估；其中，继电器寿命预测数据计算公式为： 式中，为继电器寿命预测数据，和为继电器温度影响系数，为继电器温度，为继电器质量系数，为继电器测试电流，为继电器测试电压，为功率因数，为继电器测试时间，为继电器测试过程中第i次故障的时间，为继电器测试过程中第i次故障的继电器寿命影响系数，n为继电器测试过程中故障总次数；基于继电器实际使用需求，获取继电器寿命阈值；根据继电器寿命预测数据和继电器寿命阈值，判断继电器寿命预测数据是否低于继电器寿命阈值，若否，则该继电器合格，若是，则该继电器不合格，根据继电器测试数据，对继电器生产流程进行调整。

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