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申请/专利权人：上海合见工业软件集团有限公司;成都融见软件科技有限公司

摘要：本发明涉及芯片验证领域，特别是涉及一种提取条件覆盖数据的方法、电子设备及存储介质，其通过将条件表达式拆解为多个子表达式，为每个子表达式配置覆盖数据收集模块，该覆盖数据收集模块包括变量收集模块和数据收集模块，其中变量收集模块用于配置收集每个子表达式覆盖数据的收集变量，数据收集模块用于配置收集每个子表达式的覆盖数据，在仿真阶段通过配置收集变量的不同数据位来收集每个子表达式中操作数的取值组合的覆盖状态，完成条件覆盖数据收集，该方式通过获取的收集变量值即可得到对应表达式的覆盖数据，提高了条件覆盖率收集的效率，且模块化配置能够提高配置收集覆盖数据代码的效率。

主权项：1.一种提取条件覆盖数据的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S100，获取源文件，所述源文件中包括N个条件表达式，N≥1；S200，在编译阶段，解析源文件中的N个条件表达式，得到每个条件表达式嵌套的子表达式及其操作数集合；其中，源文件中的第i个条件表达式expi嵌套Mi个子表达式，每个子表达式具有一个操作数集合，Mi≥0；当Mi＝0时，expi中嵌套的子表达式为其本身；当Mi0时，expi中嵌套的第j个子表达式subexpi,j的操作数集合opi,j＝{subopi,j,1,subopi,j,2,…,subopi,j,k,…,subopi,j,Ki,j}，subopi,j,k为subexpi,j的第k个操作数，subopi,j,k为变量或者子表达式；k的取值范围为1到Ki,j，j的取值范围为1到Mi，i的取值范围为1到N；S300，根据每个条件表达式的类型，配置相应的覆盖数据收集模块，所述覆盖数据收集模块用于收集每个条件表达式的覆盖数据；其中，expi配置的覆盖数据收集模块blocki包括变量收集模块varblocki和数据收集模块subblocki；其中，varblocki用于配置收集每个子表达式覆盖数据的收集变量，其中，subexpi,j配置的收集变量为vari,j；其中，subblocki用于配置收集每个子表达式覆盖数据的数据收集子模块，其中subexpi,j的数据收集子模块datablocki,j用于配置opi,j的U组有效取值，且当一组有效值被覆盖时将vari,j的相应数据位配置为有效覆盖值。

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