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一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置 

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申请/专利权人:杭州光粒科技有限公司

摘要:本发明公开了一种光栅最大衍射效率的测量方法及测量装置。待测全息体光栅放置于电动旋转位移台上且通过电动旋转位移台带动移动,光源发出的光束经二分之一波片入射到偏振分束器上,偏振分束器的分光面将入射光束分成两束偏振方向相互垂直的偏振光,偏振光再入射至光栅中,光栅通过电动旋转台调节入射角度至布拉格入射角,光栅将偏振光分为透射光束和衍射光束,再入射到两个光探测器上,由光探测器采集透射光束和衍射光束的光特性参数,通过光探测器测得对应的光特性参数来完成相关光栅参数的测量。本发明通过合理的设置光路,利用两种偏振光综合获取衍射效率,以解决目前光栅衍射效率测试精确性低的问题,为体全息光栅的制作提供了参考依据。

主权项:1.一种光栅最大衍射效率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、搭设光栅测量装置:放置光栅于电动旋转位移台上,光源发出的光束依次经过经二分之一波片和偏振分束器后入射到光栅上,光栅将入射光束分为透射光束和衍射光束,透射光束和衍射光束分别由两个光探测器接收;装置设有第一偏振模式和第二偏振模式两种工作模式,偏振分束器的分光面将入射光束分成两束偏振方向相互垂直的线偏振光,在第一偏振模式下,经分光面反射的第一偏振光入射至光栅中,在第二偏振模式下,经分光面透射的第二偏振光入射至光栅中;步骤2、调整电动旋转位移台的偏转角度和摆放位置,使得偏振分束器出射的线偏振光以布拉格入射角αr入射至光栅上,接着利用光探测器分别测定光栅在两种工作模式下入射角度αr对应的光功率,并根据光功率得到两种工作模式下的最大衍射效率;步骤3、更换装置中的光探测器,调整电动旋转位移台的偏转角度和摆放位置,使得偏振分束器出射的线偏振光以布拉格入射角αr入射至光栅上,然后获取光栅在第一偏振模式和第二偏振模式下的二维光谱图数据;步骤4、利用最大衍射效率和步骤3中得到的二维光谱图数据获取光栅的波长选择曲线,并基于波长选择曲线表征不同波长下光栅的衍射效率。

全文数据:

权利要求:

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