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一种IC测试机连接装置 

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申请/专利权人:渠梁电子有限公司

摘要:本实用新型涉及一种IC测试装置,尤其涉及一种IC测试机连接装置,用于对接IC分类机,其中包括:底座;气动装置,气动装置设置在底座上;升降台,升降台的底部设置有限位柱,限位柱穿设经过底座,且升降台与气动装置传动地连接;转接板,转接板设置在升降台的顶部,转接板的底部包括检测板,所述检测板上设有用于与所述IC分类机中的芯片相对接的检测槽,所述检测槽的底部连接有线束;其中,升降台包括洞口,洞口内壁上固定有集线器,线束穿设经过洞口,且至少部分的线束固定在集线器上。通过本实用新型的结构,使得升降台通过洞口对线束的让位和固定增加线束的使用寿命,并通过可升降的升降台提高与IC分类机的连接效率。

主权项:1.一种IC测试机连接装置,用于对接IC分类机;其特征在于,所述IC测试机连接装置包括:底座;气动装置,所述气动装置设置在所述底座上;升降台,所述升降台的底部设置有限位柱,所述限位柱穿设经过所述底座,且所述升降台与所述气动装置传动地连接;转接板,所述转接板设置在所述升降台的顶部,所述转接板的底部包括检测板,所述检测板上设有用于与所述IC分类机中的芯片相对接的检测槽,所述检测槽的底部连接有线束;其中,所述升降台包括洞口,所述洞口内壁上固定有集线器,所述线束穿设经过所述洞口,且至少部分的线束固定在所述集线器上。

全文数据:

权利要求:

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