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申请/专利权人：上海芯圣电子股份有限公司
申请日：2021-09-06
公开（公告）日：2022-05-03
公开（公告）号：CN114428699A
主分类号：G06F11/22
分类号：G06F11/22;G01R31/28;G01R19/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2022.05.20#实质审查的生效;2022.05.03#公开
摘要：本发明揭示了一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。本发明极大的减少了测试的时间和综合成本，提高了芯片量产的测试效率。
主权项：1.一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海芯圣电子股份有限公司 一种芯片stop电流测试的系统及其方法
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