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申请/专利权人：杭州微纳核芯电子科技有限公司
申请日：2023-08-25
公开（公告）日：2023-11-21
公开（公告）号：CN117092464A
主分类号：G01R31/12
分类号：G01R31/12;G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2023.12.08#实质审查的生效;2023.11.21#公开
摘要：本申请涉及一种用于ESD性能评估的TLP仿真激励模型，包括：包括激励模块、衰减模块、测试模块及探针模块；激励模块，用于生成TLP测试的标准波形；衰减模块，设置在激励模块和测试模块之间，用于拟合TLP测试机台的阻抗；测试模块，设置在衰减模块与探针模块之间，用于提供测试电压和测试电流；探针模块的输出端与待测器件相连接，用于在测试电压和测试电流下，对标准波形进行拟合，输出测试波形；通过本申请，解决了相关技术中存在无法精确评估具有不同阻抗的待测器件的测试结果的问题，实现了附加内阻和随负载变化的仿真，使得不同阻抗的待测器件接入时，测试波形会产生相应变化，使得仿真结果更为精确。
主权项：1.一种用于ESD性能评估的TLP仿真激励模型，其特征在于，包括：激励模块、衰减模块、测试模块及探针模块；所述激励模块，用于生成TLP测试的标准波形；所述衰减模块，设置在所述激励模块和所述测试模块之间，用于拟合TLP测试机台的阻抗；所述测试模块，设置在所述衰减模块与所述探针模块之间，用于提供测试电压和测试电流；所述探针模块的输出端与待测器件相连接，用于在所述测试电压和所述测试电流下，对所述标准波形进行拟合，输出测试波形。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州微纳核芯电子科技有限公司 用于ESD性能评估的TLP仿真激励模型
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