申请/专利权人：北京精密机电控制设备研究所

申请日：2024-01-23

公开（公告）日：2024-05-17

公开（公告）号：CN118049914A

主分类号：G01B7/02

分类号：G01B7/02;G01B7/24;G01D5/20

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开

摘要：本发明提出一种LVDT传感器检测方法，属于测量测试技术领域，采用LVDT传感器检测装置，装置包括AD转换电路、MCU电路、DA转换电路、第一带通滤波器、第二带通滤波器、LVDT传感器、第三带通滤波器、反馈信号调理电路；方法包括：控制DA转换电路产生正弦信号和余弦信号，作为原边基础信号；采用第三带通滤波器滤除副边信号的信号干扰；在LVDT传感器的正、余弦信号分别设置第一带通滤波器和第二带通滤波器；反馈信号调理电路采集滤波后的LVDT反馈信号和正弦励磁信号，分别进行差分采样和减法运算，得到调理结果；MCU电路通过同步模块控制片外AD采样时刻为调理结果的峰值，运算得到LVDT传感器的机械行程。本发明解决了专用控制芯片抗干扰能力差，可靠性低的问题。

主权项：1.一种LVDT传感器检测方法，其特征在于，采用LVDT传感器检测装置，所述LVDT传感器检测装置包括AD转换电路3、MCU电路4、DA转换电路7、第一带通滤波器9、第二带通滤波器11、LVDT传感器12、第三带通滤波器13、反馈信号调理电路14；LVDT传感器检测方法包括如下步骤：首先通过MCU电路4控制DA转换电路7，产生一路正弦信号和一路余弦信号，两路信号幅值相等、频率相同，作为LVDT传感器12的原边基础信号；使用正余弦差分励磁以提高LVDT传感器12原边信号鲁棒性；对于LVDT传感器12副边信号，采用第三带通滤波器13滤除LVDT传感器12长距离传输叠加的信号干扰；在LVDT传感器12的正、余弦信号分别设置与第三带通滤波器13相同参数的第一带通滤波器9和第二带通滤波器11，用于补偿励磁相位；反馈信号调理电路14采集滤波后的LVDT反馈信号和正弦励磁信号，对LVDT反馈信号和正弦励磁信号两个信号分别进行差分采样和减法运算，得到第一调理结果和第二调理结果；第一调理结果和第二调理结果均为正弦信号，在LVDT为机械零位时，输出幅值相等，幅值伴随LVDT机械位移变化；第二调理结果成正相关，第一调理结果成负相关；MCU电路4通过同步模块402控制片外AD采样时刻为调理结果的峰值，进行数字信号的减法运算，得到LVDT传感器12的机械行程。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京精密机电控制设备研究所 一种LVDT传感器检测方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD