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【发明公布】基于腔衰荡技术的原子自旋检测装置及方法_上海理工大学_202410197558.7 

申请/专利权人:上海理工大学

申请日:2024-02-22

公开(公告)日:2024-06-11

公开(公告)号:CN118169621A

主分类号:G01R33/032

分类号:G01R33/032;G01R33/10

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开

摘要:本发明公开了一种基于腔衰荡技术的原子自旋检测装置及方法。原子自旋检测方法包括以下步骤:形成频率处于碱金属原子共振峰附近的激光;调整激光成圆偏振光;注入圆偏振光于衰荡腔中,其中衰荡腔包括两面高反镜及位于两面高反镜之间的碱金属气室,圆偏振光于两面高反镜之间多次往返而增加光程;测量逸出衰荡腔的光强,用以分析碱金属原子对激光的吸收,再将激光调整至远失谐,碱金属原子对激光无吸收测量此时光强衰减时间;调整激光至合适频率,测量此时的输出光强;计算衰荡腔的衰荡时间,计算磁场强度。本发明测量结果不受光子涨落的影响,可有效地提升磁场测量灵敏度极限。

主权项:1.一种基于腔衰荡技术的原子自旋检测方法,其特征在于,包括以下步骤:形成频率处于碱金属原子共振峰附近的激光;调整所述激光成圆偏振光;注入所述圆偏振光于衰荡腔中,其中所述衰荡腔包括两面高反镜及位于两面所述高反镜之间的碱金属气室,所述圆偏振光于两面所述高反镜之间多次往返而增加光程;测量逸出所述衰荡腔的光强,用以分析碱金属原子对激光的吸收,再将所述激光调整至远失谐,碱金属原子对激光无吸收测量此时光强衰减时间,其中,L为衰荡腔内总光程,c为光速,R为高反镜反射率;调整所述激光至合适频率,测量此时的输出光强,其中为入射光强,为碱金属原子密度相关参数,为激光频率相关参数,为磁场相关参数;计算所述衰荡腔的衰荡时间,计算磁场强度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海理工大学 基于腔衰荡技术的原子自旋检测装置及方法

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