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在检查装备中使用位置检索信息检索显微镜样本中的目标位置的方法、检查和/或处理此类目标位置的方法以及实施这些方法的装置 

申请/专利权人:莱卡微系统CMS有限责任公司

申请日:2021-11-02

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118202290A

主分类号:G02B21/36

分类号:G02B21/36;G01N1/28;G06T7/73;G06V10/25

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:提供了一种在检查装备2500中使用位置检索信息检索显微镜样本100中的目标位置101的方法10,位置检索信息包括与目标位置101相关联的几何描述符组200,几何描述符组描述对应于目标位置101的目标位置标识符T与对应于多个参考标记物102a‑102d的位置的多个参考位置标识符1‑4之间的空间关系,多个参考标记物与显微镜样本100中的目标位置101相关联并且可在到目标位置101的各个参考标记物距离中识别,方法10包括a提供11样本100或其预计包含目标位置101的区域的数字样本表示510,b在样本表示510中指定12与目标位置101相关联的参考标记物102a‑102d中的潜在的一个,c提供13与目标位置101相关联的多个参考标记物102中的各个参考标记物距离的数字距离表示520,其形式为同轴地以指定12的参考标记物102a‑102d中的潜在的一个为中心的旋转轨迹,以及d基于对样本表示510和数字距离表示520的评估,将样本表示510中的特征识别14为可能是目标位置101和或将参考标记物102a‑102d中的潜在的一个识别14为参考标记物102a‑102d之一。还提供了一种用于检查和或处理显微镜样本100的方法、一种适于执行对应方法的设备、一种显微镜检查和或处理布置2000以及一种用于执行方法的计算机程序。

主权项:1.一种在检查装备2500中使用位置检索信息检索显微镜样本100中的目标位置101的方法10,所述位置检索信息包括与所述目标位置101相关联的几何描述符组200,所述几何描述符组描述对应于所述目标位置101的目标位置标识符T与对应于多个参考标记物102a-102d的位置的多个参考位置标识符1-4之间的空间关系,所述多个参考标记物与所述显微镜样本100中的所述目标位置101相关联并且可在到所述目标位置101的各个参考标记物距离中识别,所述方法10包括a提供11所述样本100或其预计包含所述目标位置101的区域的数字样本表示510,b在所述样本表示510中指定12与所述目标位置101相关联的所述参考标记物102a-102d中的潜在的一个参考标记物,c提供13与所述目标位置101相关联的所述多个参考标记物102中的所述各个参考标记物距离的数字距离表示520,其形式为同轴地以指定12的所述参考标记物102a-102d中的所述潜在的一个参考标记物为中心的旋转轨迹,d基于对所述样本表示510和所述数字距离表示520的评估,将所述样本表示510中的特征识别14为可能是所述目标位置101和或将所述参考标记物102a-102d中的所述潜在的一个参考标记物识别14为所述参考标记物102a-102d之一。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 莱卡微系统CMS有限责任公司 在检查装备中使用位置检索信息检索显微镜样本中的目标位置的方法、检查和/或处理此类目标位置的方法以及实施这些方法的装置

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