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申请/专利权人：惠州高盛达科技股份有限公司
申请日：2023-12-05
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118200213A
主分类号：H04L43/50
分类号：H04L43/50;H04L69/16;H04W24/08;G06F9/48
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.02#实质审查的生效;2024.06.14#公开
摘要：本申请涉及一种基于ARM板并行测试方法、系统、电子设备及存储介质。该基于ARM板并行测试方法包括：将程序初始化处理，输出连接请求至ARM开发板，以与ARM开发板通信连接；将ARM开发板进行分析处理，输出测试数据包至ARM开发板，ARM开发板根据测试数据包，对无线模组的待测试模块发射信号，以使检测仪器对无线模组的待测试模块进行检测，生成测试分析包；将测试分析包进行读取处理，输出测试信息表。本申请提供的方案，能够降低测试成本，简化测试工序。
主权项：1.一种基于ARM板并行测试方法，其特征在于，包括：将程序初始化处理，输出连接请求至ARM开发板，以与所述ARM开发板通信连接；将所述ARM开发板进行分析处理，输出测试数据包至所述ARM开发板，所述ARM开发板根据所述测试数据包，对无线模组的待测试模块发射信号，以使检测仪器对所述无线模组的待测试模块进行检测，生成测试分析包；将所述测试分析包进行读取处理，输出测试信息表。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 惠州高盛达科技股份有限公司 基于ARM板并行测试方法、系统、电子设备及存储介质
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