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【发明授权】一种轮胎结构形象痕迹自动识别比对方法_公安部交通管理科学研究所_202110380322.3 

申请/专利权人:公安部交通管理科学研究所

申请日:2021-04-09

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN115115840B

主分类号:G06V10/28

分类号:G06V10/28;G06V10/24;G06V10/74;G06V10/75

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.14#授权;2022.10.18#实质审查的生效;2022.09.27#公开

摘要:本发明提供一种轮胎结构形象痕迹自动识别比对方法,即便对于复杂的、不完整的现场痕迹的识别,也能够在嫌疑车辆轮胎花纹样本中找到与现场痕迹图像相似度最高的图形区域,对于有一部分畸变的现场轮胎痕迹也具备很好的识别效果。本专利技术方案中,通过对嫌疑对象花纹样本照预设的旋转角度作为步长进行旋转,得到变形后的嫌疑对象花纹样本,然后对现场痕迹检材和所有的嫌疑对象花纹样本的二值化矩阵的相似度进行计算,找到极值即可识别出现场痕迹检材中与嫌疑对象花纹样本最接近的图像区域。

主权项:1.一种轮胎结构形象痕迹自动识别比对方法,其包括以下步骤:S1:获取现场痕迹检材和嫌疑对象花纹样本的图像;其特征在于,其还包括以下步骤:S2:对所述现场痕迹检材、所述嫌疑对象花纹样本的痕迹图像进行预处理,分别得到检材二值化矩阵J、样本二值化矩阵Y;S3:将所述检材二值化矩阵J按照预设的旋转角度作为步长进行旋转遍历,得到对应的所有的检材旋转矩阵Jθ;S4:在所述检材旋转矩阵Jθ中遍历,取出所有与所述样本二值化矩阵Y同阶的检材子矩阵J′θ,x,y;遍历计算所述样本二值化矩阵Y与所有的所述检材子矩阵J′θ,x,y的相似度,得到所有的相似度Sθ,x,y;S5:在所述相似度Sθ,x,y的值构成的曲线中,找出极值S″;得到所述极值S″对应的配准值θ″,x″,y″;S6:将所述现场痕迹检材的图像顺时针旋转θ″度,得到检材旋转图;S7:按照配准框的尺寸,从所述检材旋转图中的范围采集图像区域,记做配准图形;所述配准图形即为所述现场痕迹检材花纹样本中,与所述嫌疑对象花纹样本最接近的图像区域;其中,所述样本二值化矩阵Y为P×Q阶矩阵,则所述配准框的尺寸取值为:所述配准框的列的范围为:第x″列~第x″+P列;所述配准框的行的范围为:第y″行~第y″+Q行。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 公安部交通管理科学研究所 一种轮胎结构形象痕迹自动识别比对方法

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