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申请/专利权人：长光卫星技术股份有限公司
申请日：2024-03-20
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118209299A
主分类号：G01M11/02
分类号：G01M11/02;G01J1/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：一种基于成像工况兼容模型的在轨绝对辐射定标方法。涉及遥感图像处理领域，具体涉及遥感卫星在轨绝对辐射定标领域。本发明所述方法利用绝对辐射定标精度较高的卫星作为参考卫星，以交叉定标的方式获取待标定卫星的入瞳辐亮度，在光谱匹配的过程中，考虑光谱差异、太阳光谱辐照度差异及几何差异，相较于传统方法，大大简化了光谱匹配过程，通过成像工况标定模型标定通用性系数，使用通用性系数完成各成像工况下的绝对辐射定标系数计算；利用本发明所述方法，单次成像任务即可完成整星的在轨绝对辐射定标，可靠性强、时效性高且成本较低，实现了业务化的在轨绝对辐射定标。
主权项：1.一种基于成像工况兼容模型的在轨绝对辐射定标方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S1、选择参考卫星以及确定待定标卫星，使参考卫星以及待定标卫星就同一场景进行拍摄；S2、根据待标定卫星与参考卫星的遥感影像，使用ORB算法或模板匹配算法对两幅影像进行同名点匹配，获取同名点信息；S3、选择均匀场景的区域作为光谱匹配的目标，对同名点进行光谱匹配，计算光谱匹配因子；S4、根据获取到的同名点，将参考卫星的辐亮度与光谱匹配因子相乘，获得待标定卫星的入瞳辐亮度；S5、构建成像工况兼容模型，使用最小二乘法线性拟合待标定卫星的通用性系数；S6、根据待标定卫星的通用性系数及每次成像任务中的成像工况参数，完成该次成像任务下待标定卫星的绝对辐射定标系数计算。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长光卫星技术股份有限公司 一种基于成像工况兼容模型的在轨绝对辐射定标方法
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