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申请/专利权人：冠捷电子科技(福建)有限公司
申请日：2024-03-28
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118209845A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G01R1/02;B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：本发明公开一种ICT自动化测试系统及方法，将ICT测试中的读码，进站，测试，结果判定，数据上传系统，出站等功能集成到一个系统中。将生产过程中其中多个需要人工操作复杂易错的的动作进行整合，通过红外传感器控制进站，发送进站信号，自动读码，测试，对结果进行自动判定，分OK品和NG品分道独立出站，去掉这些人为效率低下等待时间和视觉疲劳所产生人为漏失，使操作简单化，智能化，标准化，数据量化，所有测试的状态控制完全由该系统程式完成。
主权项：1.一种ICT自动化测试系统，其特征在于：其包括工业PLC以及与工业PLC连接的扫码接驳台、ICT测试机和不良板存储台，扫码接驳台、ICT测试机和不良板存储台均在具有传输轨道；扫码接驳台、ICT测试机和不良板存储台的传输轨道依次对接形成传输线；扫码接驳台、ICT测试机和不良板存储台的传输轨道上均具有一工作工位；每个传输轨道沿着行进至下个工作工位方向依次设有减速光电开关和到位光电开关，减速光电开关和到位光电开关分别连接工业PLC；减速光电开关用于探测PCB板即将到达工作工位，并由工业PLC基于减速光电开关信号控制传输轨道减速；到位光电开关用于探测PCB板达到工作工位，以便工业PLC驱动对应的设备执行对应的测试动作；扫码接驳台的工作工位为扫码工位，扫码接驳台的传输轨道对应扫码工位的上方和下方分别一一对应设有上扫码模块和下扫码模块；上扫码模块和下扫码模块在工业PLC的驱动下扫描获取PCB板的SN码；ICT测试机的工作工位为测试工位，ICT测试机的传输轨道对应测试工位的上方设有测试上板，测试上板由一下压气缸带动升降；在传输轨道对应测试工位的下方设有测试治具，测试治具上设有与待测PCB板配套的测试主板，测试治具底部设有带动测试底板升降的升降汽缸；升降汽缸上升时，测试治具上的测试主板与待测PCB建立电连接；不良板存储台的工作工位为分选工位，基于ICT测试机的测试结果工业PLC将不良PCB板送入不良板存储台。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 冠捷电子科技(福建)有限公司 一种ICT自动化测试系统及方法
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