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申请/专利权人：北京工业大学
申请日：2024-03-01
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225593A
主分类号：G01N3/18
分类号：G01N3/18;G01N3/06;G01N3/02;G01N23/2251;G01N23/203;G01N23/207;G01N1/28;G01N1/32
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：一种基于原位拉伸研究的散斑制备方法以及材料微区变形的表征方法，属于变形测量和材料性能研究领域。对试样进行处理，在对EBSD表征无较大影响的情况下，将样品表面腐蚀出弥散分布且较为均匀的小孔，可在原位拉伸实验过程中分析应变场分布。通过初始EBSD数据分析晶体取向、相关滑移线系开启等问题；通过原位SEM拉伸，研究材料的变形机制、裂纹的萌生扩展以及夹杂物变形情况等科学问题；通过DIC数据分析原位拉伸实验过程中应变场的分布规律。同时满足上述表征手段时，可将多种表征手段相结合，多角度探讨原位拉伸实验过程中材料的动态演变机理。
主权项：1.一种基于原位拉伸研究的散斑制备方法，其特征在于，包括以下步骤：1试样加工；根据原位拉伸台对样品尺寸的要求以及特定的实验需求，通过线切割设备切割获得狗骨形片状拉伸样品，试样中间为标距段区域，作为原位拉伸研究的主要观察区域；2样品打磨；采用手磨或机磨的方式对样品表面及标距段侧面依次使用320#、600#、1200#、2000#、3000#、5000#的碳化硅砂纸进行打磨用以细化划痕；3抛光处理；利用机械抛光、振动抛光或电解抛光的方式去除样品表面划痕；4样品腐蚀；将析出相更加明显的显现，同时又不对EBSD解析率造成较大影响；5散斑制备；首先按比例配置化学腐蚀液，将配置好的化学腐蚀液放于玻璃培养皿中，然后将上述电化学腐蚀后的样品置于溶液中浸泡5-7min，使样品表面能够腐蚀出弥散分布的小孔，将此作为散斑，用作DIC识别所需要的特征，同时又不会对EBSD表征造成较大影响，将DIC与SEM、EBSD相结合，通过原位拉伸实验可多角度研究材料的变形行为。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京工业大学 一种基于原位拉伸研究的散斑制备方法以及材料微区变形的表征方法
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