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一种新型DFN高速封装测试检验一体装置 

申请/专利权人:江苏盐芯微电子有限公司

申请日:2023-11-07

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN221198858U

主分类号:G01M7/02

分类号:G01M7/02;H01L21/67;H01L21/66

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权

摘要:本实用新型涉及半导体封装附属装置的技术领域,特别是涉及一种新型DFN高速封装测试检验一体装置,一种在对芯片进行震动检测时会产生震动时,可以有效减少因震动对该装置主体造成的伤害,从而提高了该装置的稳定性,因此增强了实用性的新型DFN高速封装测试检验一体装置;包括装置主体,还包括固定板、四组支腿、压板、四组支撑杆、多组铰座、四组第一滑块、四组滑杆、四组第一弹簧和连接机构,固定板顶部设置有凹槽,并且固定板凹槽顶部和装置主体底部滑动紧贴,固定板底部均匀设置有四组支腿,固定板凹槽底部均匀设置有四组滑槽,并且四组固定板凹槽底部滑槽分别设置有一组滑杆,四组第一滑块分别和滑杆滑动连接。

主权项:1.一种新型DFN高速封装测试检验一体装置,包括装置主体1,其特征在于,还包括固定板2、四组支腿3、压板4、四组支撑杆5、多组铰座6、四组第一滑块7、四组滑杆8、四组第一弹簧9和连接机构,固定板2顶部设置有凹槽,并且固定板2凹槽顶部和装置主体1底部滑动紧贴,固定板2底部均匀设置有四组支腿3,固定板2凹槽底部均匀设置有四组滑槽,并且四组固定板2凹槽底部滑槽分别设置有一组滑杆8,四组第一滑块7分别和滑杆8滑动连接,四组滑杆8外侧一端分别设置有一组第一弹簧9,四组第一滑块7顶部分别通过一组铰座6和支撑杆5底部铰接,并且压板4底部分别均匀通过铰座6和四组支撑杆5顶部铰接,压板4顶部和装置主体1底部紧贴,并且固定板2凹槽底部左端和右端分别通过连接机构和装置主体1底部连接。

全文数据:

权利要求:

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