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申请/专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日：2023-12-15
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118243234A
主分类号：G01J5/00
分类号：G01J5/00;G01J5/80;G01J5/90
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本申请提供一种温度测量装置及标定方法，温度测量装置包括：瞄准筒，瞄准筒包括筒主体，筒主体包括第一端和第二端；筒主体设置有第一光通道；冷却套，包括冷却主体，以及第二光通道；冷却主体连接于第一端，第二光通道与第一光通道连通，冷却主体设置有围绕第二光通道且供冷却液流动的内腔；红外测温组件，设置于第二端，红外测温组件用于根据获取的红外线确定待测件的表面温度。本申请提供的温度测量装置及标定方法，通过在筒主体的第一端设置冷却套，能够降低待测件所在的加热设备内部的辐射热对第二光通道内的红外线造成的不良影响，保证经过第二光通道和第一光通道的红外线能够较为真实的反映待测件的表面温度，有助于提高测量精度。
主权项：1.一种温度测量装置，其特征在于，包括：瞄准筒，所述瞄准筒包括筒主体，所述筒主体包括靠近待测件的第一端和远离所述待测件的第二端；所述筒主体设置有由所述第一端贯穿至所述第二端的第一光通道；冷却套，包括冷却主体，以及由所述冷却主体的一端贯穿至另一端的第二光通道；所述冷却主体连接于所述第一端，所述第二光通道与所述第一光通道连通，所述冷却主体设置有围绕所述第二光通道且供冷却液流动的内腔；红外测温组件，设置于所述第二端，所述红外测温组件用于根据获取的红外线确定所述待测件的表面温度；其中，所述红外线由所述待测件发出且依次穿过所述第二光通道和所述第一光通道到达所述红外测温组件。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 航天科工防御技术研究试验中心 温度测量装置及标定方法
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