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质量分析装置及其控制方法 

申请/专利权人:株式会社岛津制作所

申请日:2022-08-26

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118251749A

主分类号:H01J49/00

分类号:H01J49/00;G01N27/626;H01J49/10;H01J49/42

优先权:["20211116 JP 2021-186359"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:在第一对象离子的检测中从气体供给部19向碰撞池11供给气体的情况下,控制器22在第一对象离子的检测前,对在离子的行进方向上位于比碰撞池11更靠下游侧的位置的电极,施加对与第一对象离子对应的第一检测用电压值加上调整值而得的第一调整用电压值的电压,并在第一对象离子的检测中,对在离子的行进方向上位于比碰撞池11更靠下游侧的位置的电极施加第一检测用电压值的电压。调整值是表示出与第一对象离子的极性相反极性的值。

主权项:1.一种质量分析装置,包括:等离子体离子源,利用等离子体离子对试样进行离子化;质量过滤器,选择性地使经离子化的试样中的具有特定的质荷比的对象离子通过;检测器,检测所述对象离子;碰撞池,设置于所述等离子体离子源与所述质量过滤器之间;气体供给部,向所述碰撞池供给气体;以及控制器,控制对电极施加的电压的值,在第一对象离子的检测中从所述气体供给部向所述碰撞池供给气体的情况下,所述控制器:在所述第一对象离子的检测前,对在离子的行进方向上位于比所述碰撞池更靠下游侧的位置的电极,施加对与所述第一对象离子对应的第一检测用电压值加上调整值而得的第一调整用电压值的电压,并在所述第一对象离子的检测中,对在离子的行进方向上位于比所述碰撞池更靠下游侧的位置的电极,施加所述第一检测用电压值的电压,所述调整值是表示出与所述第一对象离子的极性相反的极性的值。

全文数据:

权利要求:

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