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【发明公布】暗测试方法及异常诊断设备_大隈株式会社_202311672901.0 

申请/专利权人:大隈株式会社

申请日:2023-12-07

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118244082A

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28

优先权:["20221222 JP 2022-205495"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:一种用于诊断输出切换电路中2是否存在异常的暗测试方法中,所述输出切换电路2配置成输出用于切换输出装置5的接通和关断的电压信号,包括执行测试过程,该测试过程包括:向输出切换电路2输出具有诊断脉冲宽度的关断脉冲形式的切换信号;以及确定是否能够从输出检测信号中检测到具有关断脉冲形式的响应脉冲,所述输出检测信号是通过对从输出切换电路2输出的电压信号进行数字转换而获得的。重复所述测试过程,并且逐渐增加诊断脉冲宽度直到能够检测到响应脉冲。当诊断脉冲宽度达到或超过指定上限值时,将输出切换电路2确定为异常。

主权项:1.一种用于诊断输出切换电路中是否存在异常的暗测试方法,所述输出切换电路配置成输出用于切换输出装置的接通和关断的电压信号,所述方法包括:执行测试过程,该测试过程包括:向所述输出切换电路输出具有诊断脉冲宽度的关断脉冲形式的切换信号;以及确定是否能够从输出检测信号中检测到具有关断脉冲形式的响应脉冲,所述输出检测信号是通过对从所述输出切换电路输出的所述电压信号进行数字转换而获得的,其中,重复所述测试过程,并且逐渐增加所述诊断脉冲宽度直到能够检测到所述响应脉冲,以及当所述诊断脉冲宽度达到或超过指定上限值时,将所述输出切换电路确定为异常。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 大隈株式会社 暗测试方法及异常诊断设备

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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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