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申请/专利权人：西安理工大学
申请日：2024-04-17
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118243017A
主分类号：G01B11/25
分类号：G01B11/25;G06T7/00;G06T7/136
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明公开了基于广义回归神经网络的反光目标全场三维轮廓测量方法包括内盒体，包括：通过投影仪投影并由工业相机拍摄所有相移条纹图像与格雷码条纹图像，之后分析得到测量目标的展开相位；根据预设的阈值判断展开相位区分亮度饱和区域与亮度不饱和区域；选择亮度不饱和部分区域的像素坐标作为输入和对应的展开相位作为输出代入GRNN进行训练；将亮度饱和区域的坐标作为输入代入训练好的GRNN中输出预测的展开相位；将亮度饱和区域和非亮度饱和区域的展开相位进行拼接，得到最终完整的展开相位。本发明在无需增加测量装置及方法步骤便可以有效降低反光对测量精度的影响，极大的提高了基于条纹结构光三维测量技术的实用性。
主权项：1.基于广义回归神经网络的反光目标全场三维轮廓测量方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：步骤1，通过投影仪投影并由工业相机拍摄所有相移条纹图像与格雷码条纹图像，之后分析所得相移条纹图像与格雷码条纹图像，得到测量目标的展开相位；步骤2，根据预设的阈值判断展开相位区分亮度饱和区域与亮度不饱和区域；步骤3，选择亮度不饱和部分区域的像素坐标作为输入和对应的展开相位作为输出代入GRNN进行训练；步骤4，将亮度饱和区域的坐标作为输入代入训练好的GRNN中输出预测的展开相位；步骤5，将亮度饱和区域和非亮度饱和区域的展开相位进行拼接，得到最终完整的展开相位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安理工大学 基于广义回归神经网络的反光目标全场三维轮廓测量方法
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