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缺陷检测设备和缺陷检测方法 

申请/专利权人:京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方显示技术有限公司

申请日:2024-03-29

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118243697A

主分类号:G01N21/95

分类号:G01N21/95;G01N21/01

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明涉及一种缺陷检测设备和缺陷检测方法,缺陷检测设备包括上料单元、下料单元,第一搬运单元、读码单元、第一翻转单元、第二搬运单元、光学检测单元和第三搬运单元;第一搬运单元用于将液晶盒搬运至读码单元;第一翻转单元用于对液晶盒进行翻转;第二搬运单元用于将读码后的和或经过翻转后的液晶盒搬运至光学检测单元;第三搬运单元用于将经过光学检测的液晶盒搬运至下料单元;光学检测单元包括短边检测部、旋转部、长边检测部和面内检测部,短边检测部用于对液晶盒的短边进行裂纹检测,旋转部用于将经过短边检测的液晶盒旋转预设角度,长边检测部用于对液晶盒的长边进行检测,面内检测部用于对液晶盒的显示区进行检测。

主权项:1.一种缺陷检测设备,用于检测液晶显示面板的液晶盒的裂纹缺陷,其特征在于,包括:上料单元、下料单元,以及沿着液晶盒的传输方向设置于所述上料单元和所述下料单元之间的第一搬运单元、读码单元、第一翻转单元、第二搬运单元、光学检测单元和第三搬运单元;所述第一搬运单元用于将液晶盒从所述上料单元搬运至所述读码单元,以读取液晶盒的身份信息;所述第一翻转单元包括控制部和翻转部,所述翻转部用于翻转液晶盒,所述控制部用于控制所述翻转部在工作状态和非工作状态之间切换;所述第二搬运单元用于将读码后的和或经过翻转后的液晶盒搬运至所述光学检测单元;所述第三搬运单元用于将经过光学检测的液晶盒搬运至所述下料单元;所述光学检测单元包括短边检测部、旋转部、长边检测部和面内检测部,所述短边检测部用于对液晶盒的短边进行裂纹检测,所述旋转部用于将经过短边检测或长边检测的液晶盒旋转预设角度,所述长边检测部用于对液晶盒的长边进行检测,所述面内检测部用于对液晶盒的显示区、显示区的摄像孔及摄像孔边缘进行检测。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方显示技术有限公司 缺陷检测设备和缺陷检测方法

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