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申请/专利权人：厦门大学
申请日：2024-03-29
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118242987A
主分类号：G01B11/02
分类号：G01B11/02;G01N21/84;G06T7/20;G06T7/62;G06V10/774;G06V20/69;G06V10/25;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/09
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，属于显微检测技术领域。1在显微系统成像光路的探测端利用CCD相机采集显微镜视场的图像；2运行显微系统，采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据；3标注并扩充原始数据集，搭建、训练并测试深度学习模型；4检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线；5根据标定的曲线实时计算微粒的轴向位移。适用于多种显微系统，适用性广泛。有监督学习可拥有更好的检测性能，可在显微镜下实时识别并检测微粒的一级衍射环半径。结合图像数据增强的方法，快速简便，降低轴向位移的实时测量成本。在没有额外引进硬件设备的前提下，具有测量精确，适用性强，不易受环境光影响等优点。
主权项：1.结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于包括以下步骤：1在显微系统成像光路的探测端利用CCD相机采集显微镜视场的图像；2运行显微系统，采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据；3标注并扩充原始数据集，搭建、训练并测试深度学习模型；4检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线；5根据标定的曲线实时计算微粒的轴向位移。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 厦门大学 结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法
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